|
تفاصيل المنتج:
|
| عرض: | شاشة LCD ملونة | وضعية التشغيل: | وضع البرنامج ، وضع القيمة الثابتة |
|---|---|---|---|
| توحيد درجة الحرارة: | ≤ ± 2 ℃ | معدل التسخين: | 5 ℃ / دقيقة (تبريد ميكانيكي ، تحت الحمل القياسي) |
| تسليط الضوء: | نظام اختبار ذاكرة فلاش شامل معجل للشيخوخة,نظام اختبار ذاكرة فلاش بدرجة حرارة منخفضة,غرفة شيخوخة متسارعة بدرجة حرارة منخفضة |
||
نظام اختبار ذاكرة فلاش شامل غرفة الشيخوخة المعجلة بدرجة حرارة عالية ومنخفضة
مواصفات المنتج
نظام الاختبار الذكي لشريحة ذاكرة الفلاش HD-512-NAND هو نظام اختبار ذاكرة فلاش شامل يمكنه تخصيص خطة الاختبار ودعم الاختبار المتوازي لأنواع مختلفة من جزيئات ذاكرة الفلاش.64 نوعًا ، يمكن أن يصل الحد الأقصى لعدد جزيئات ذاكرة الفلاش في الاختبار المتوازي إلى 512.
يدعم نظام الاختبار الذكي لرقاقة ذاكرة الفلاش YC-512-NAND أنماط اختبار متعددة ووظائف معلمة اختبار مخصصة ، ويمكن أن يوفر عملية اختبار أساسية بنقرة واحدة وعملية اختبار عالية المستوى بمرونة عالية ، ولا يمكن فقط تحقيق العمر المتبقي لذاكرة الفلاش يمكن أيضًا أن تساعد الجسيمات والقياس الفعلي والاحتفاظ بالبيانات وقراءة التداخل والاختبارات الوظيفية الأخرى المستخدمين على التحقق من حالة الموثوقية لجزيئات ذاكرة الفلاش.بعد اكتمال الاختبار ، يمكن تصدير تقرير الاختبار بسهولة وبسرعة باستخدام مفتاح واحد ، مما يوفر للعملاء بيانات الاختبار الرسومية الأكثر سهولة ودقة.توفير مرجع البيانات الأكثر سهولة لتصنيف الدرجات وتطبيق جزيئات ذاكرة الفلاش ، وتحقيق التصنيف الذكي بناءً على نتائج فحص الجودة لجزيئات ذاكرة الفلاش.
※ يتوافق أساس الاختبار مع حامل JEDEC رقم 218: متطلبات جمعية تكنولوجيا الحالة الصلبة B-2016 ومتطلبات اختبار التحمل ؛
※ يتوافق أساس الاختبار مع معيار JEDEC رقم 47 NVCE: تأهيل معتمد من جمعية تكنولوجيا الحالة الصلبة للدوائر المتكاملة ؛
مواصفات تصميم لوحة الاختبار تفي بمتطلبات بيئة درجة حرارة الاختبار الصناعية ؛
معلومة
| حجم الصندوق الداخلي | W760 × D400 × H890mm |
| حجم الصندوق الخارجي | W1870 × D890 × H1830mm |
| مقدار | 270 لتر |
| طريقة الافتتاح | باب واحد (مفتوح لليمين) |
| طريقة التبريد | تبريد الهواء |
| وزن | حوالي 950 كجم |
| مزود الطاقة | تيار متردد 380 فولت حوالي 7.5 كيلو واط |
تيمعلمة إمبيراتور
| نطاق درجة حرارة | -70 ℃ ~ 150 ℃ |
| تقلب درجات الحرارة |
≤ ± 0.5 ≤ ± 1 |
| تعويض درجة الحرارة | ≤ ± 2 ℃ |
| قرار درجة الحرارة | 0.01 ℃ |
| معدل التسخين | 5 ℃ / دقيقة (تبريد ميكانيكي ، تحت الحمل القياسي) |
| معدل تغير درجة الحرارة |
يمكن أن تلبي درجة الحرارة المرتفعة 5 ~ 8 / min غير خطي قابل للتعديل (يقاس عند مخرج الهواء ، التبريد الميكانيكي ، تحت الحمل القياسي) ، يمكن أن تلبي درجة الحرارة المنخفضة 0 ℃ ~ 2 ℃ / min غير خطي قابل للتعديل (يقاس عند مخرج الهواء ، التبريد الميكانيكي ، تحت الحمل العادي) |
| توحيد درجة الحرارة | ≤ ± 2 ℃ |
| الحمولة القياسية | كتلة ألومنيوم 10 كجم ، حمولة 500 واط ؛ |
قواعد الامتحان
|
معدات اختبار درجة الحرارة GB / T5170.2-2008
GB / 2423.1-2008 (IEC60068-2-1: 2007) طريقة اختبار درجات الحرارة المنخفضة AB.
GB / 2423.2-2008 (IEC60068-2-2: 2007) طريقة اختبار درجة الحرارة المرتفعة BA.
طريقة اختبار درجة الحرارة العالية GJBl50.3 (MIL-STD-810D).
طريقة اختبار درجة الحرارة المنخفضة GJBl50.4 (MIL-STD-810D). |
نظام التحكم
| عرض | شاشة LCD ملونة |
| وضعية التشغيل | وضع البرنامج ، وضع القيمة الثابتة |
| جلسة | القائمة الصينية والإنجليزية (اختياري) ، إدخال شاشة تعمل باللمس |
| يضع مجال | درجة الحرارة: اضبط وفقًا لنطاق عمل درجة الحرارة للجهاز (الحد الأعلى + 5 درجة مئوية ، الحد الأدنى -5 درجة مئوية) |
|
دقة العرض |
درجة الحرارة: 0.01 درجة مئوية الوقت: 0.01 دقيقة |
|
طريقة التحكم |
طريقة التحكم في درجة الحرارة المتوازنة BTC + DCC (التحكم الذكي في التبريد) + DEC (التحكم الكهربائي الذكي) (معدات اختبار درجة الحرارة) طريقة التحكم في درجة الحرارة والرطوبة المتوازنة BTHC + DCC (التحكم الذكي في التبريد) + DEC (التحكم الكهربائي الذكي) (معدات اختبار درجة الحرارة والرطوبة) |
|
وظيفة تسجيل المنحنى |
يحتوي على ذاكرة الوصول العشوائي مع حماية البطارية ، والتي يمكن أن توفر القيمة المحددة وقيمة أخذ العينات ووقت أخذ العينات للجهاز ؛الحد الأقصى لوقت التسجيل 350 يومًا (عندما تكون فترة أخذ العينات 1.5 دقيقة) |
|
وظيفة التبعي |
إنذار الخطأ وسببه ، وظيفة المعالجة السريعة وظيفة الحماية من انقطاع التيار الكهربائي وظيفة حماية درجة الحرارة العليا والسفلى وظيفة توقيت التقويم (التشغيل التلقائي والتوقف التلقائي للتشغيل) وظيفة التشخيص الذاتي |
اتصل شخص: Kelly
